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phoenix nanome|x 納米焦點(diǎn) X射線檢測(cè)系統(tǒng)是超高分辨率的納米焦點(diǎn) X射線檢測(cè)系統(tǒng),設(shè)計(jì)用于檢測(cè)半導(dǎo)體及SMT行業(yè)的高品質(zhì)的組件和互連。 該系統(tǒng)具有性能和多功能性,可用于二維X射線檢測(cè),以及全三維計(jì)算機(jī)斷層掃描(nano ct)。 有了新的 x|act 軟件包, phoenix nanome|x是可選的系統(tǒng),用以確保滿足目前和未來(lái)的*要求。
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